Webinaire "Pourquoi le SEM ne suffit plus : les nouvelles frontières de la rugosité 3D" - 25 mars 2026

La société IotaMetrix développe des systèmes de métrologie optique non destructive destinés au contrôle qualité des matériaux et surfaces à l'échelle nanométrique.

Elle vous propose un webinaire le 25 mars 2026 à 16h pour vous aider à choisir la bonne méthode de métrologie lorsque le temps est critique.

Ce webinaire permettra de comparer différentes approches de métrologie pour l'industrie (SEM, AFM, confocales et optiques), leurs avantages et leurs inconvénients ainsi que les complémentarités, afin de répondre aux enjeux de caractérisation d'objets pour la microélectronique et de matériaux structurés toujours plus précis et complexes.

Inscription par mail : webinaire@iotametrix.fr‍